現(xiàn)代制造業(yè)生產(chǎn)工藝自動(dòng)化程度不斷提高，對(duì)產(chǎn)品外觀(guān)、尺寸、質(zhì)量及性能等要求日益嚴(yán)格，工件表面瑕疵不但影響其外在“顏值”，更惡劣的是影響工件的使用性能，使產(chǎn)品的安全性降低，在出廠(chǎng)前剔除這些瑕疵勢(shì)在必行。目前國(guó)內(nèi)大部分廠(chǎng)家采用傳統(tǒng)的人工肉眼目測(cè)法檢測(cè)，這種傳統(tǒng)方法在自動(dòng)化程度日益提高的今天就顯得笨拙了：抽檢率低，檢測(cè)速度慢，檢測(cè)結(jié)果易受檢測(cè)人員主觀(guān)因素影響，缺乏統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)和科學(xué)的指導(dǎo)，已經(jīng)無(wú)法滿(mǎn)足高速、高精度、實(shí)時(shí)的自動(dòng)化生產(chǎn)要求。
同時(shí)，現(xiàn)代企業(yè)用工成本日益增加，以及機(jī)器視覺(jué)像素日益提高，越來(lái)越多的企業(yè)開(kāi)始使用自動(dòng)化的表面瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)，以尋求降低成本的同時(shí)實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程中的自動(dòng)檢測(cè)、報(bào)警、記錄、統(tǒng)計(jì)、挑選、標(biāo)記等功能。但是，在選用傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)方式進(jìn)行瑕疵檢測(cè)時(shí)，我們發(fā)現(xiàn)其對(duì)高光物體表面和透明物體表面進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，遭遇了“蜀道難, 難于上青天”的困難。
高光產(chǎn)品表面屬于鏡面反光，工件本身平整度高，且易粘黏油污、手印等，由于材質(zhì)表面光潔度很高，已經(jīng)形成一個(gè)高光鏡面，即使在很弱的光源狀態(tài)下，表面的反光也會(huì)有非常強(qiáng)的對(duì)比度，這種對(duì)比度會(huì)把其表面本身的雜質(zhì)、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋，使傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)拍照無(wú)法檢測(cè)出零件表面的缺陷。同時(shí)，由于材質(zhì)表面已經(jīng)形成一個(gè)鏡面，一般的光學(xué)鏡頭和視覺(jué)光源的燈珠等都會(huì)在材質(zhì)表面形成倒影，這個(gè)倒影會(huì)成像于最后的檢測(cè)畫(huà)面上，嚴(yán)重影響材質(zhì)表面的成像效果，造成檢測(cè)無(wú)法進(jìn)行。
對(duì)于透明類(lèi)產(chǎn)品表面的缺陷檢測(cè)，使用一般光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行正面打光時(shí)，大部分光經(jīng)過(guò)玻璃透射后有極少光線(xiàn)反射回鏡頭，導(dǎo)致不明顯缺陷無(wú)法在傳統(tǒng)的機(jī)器視覺(jué)中進(jìn)行顯現(xiàn)。同時(shí)，使用一般光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行透射打光時(shí)，遇到缺陷會(huì)形成多層漫反射，也導(dǎo)致不明顯的缺陷無(wú)法顯現(xiàn)。
在此背景下，25年來(lái)一直潛心鉆研于技術(shù)創(chuàng)新的法國(guó)STIL品牌獨(dú)創(chuàng)的光譜共焦技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生，此技術(shù)結(jié)合線(xiàn)陣相機(jī)，形成了MC2視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，完美地解決了傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)在表面瑕疵檢測(cè)的困難，具有明顯的優(yōu)勢(shì)：
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無(wú)需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
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環(huán)境光線(xiàn)的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)；
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適應(yīng)所有的物體表面，無(wú)論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面；
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高達(dá)80KHz的掃描速度，并可實(shí)現(xiàn)非常低的像素尺寸(最小像素可達(dá)0.2×0.2μm2)；
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最高可至2.6mm的高景深，在景深范圍內(nèi)的任何一個(gè)位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無(wú)需進(jìn)行Z軸對(duì)焦。
STIL MC2動(dòng)態(tài)視覺(jué)顯微鏡 之實(shí)驗(yàn)室情景
MC2動(dòng)態(tài)視覺(jué)檢測(cè)案例
復(fù)合材料之比較：
傳統(tǒng)視覺(jué)顯微鏡 STIL MC2視覺(jué)成像
電子元件的比較：
傳統(tǒng)視覺(jué)顯微鏡 STIL MC2視覺(jué)成像
最小的缺陷清晰可見(jiàn)：
手機(jī)屏幕玻璃邊緣的檢測(cè)：
玻璃表面的微小劃傷：
印刷電路板(PCB)的生產(chǎn)缺陷：
半導(dǎo)體 晶片邊緣的生產(chǎn)缺陷：
案例具體數(shù)據(jù)--1mm玻璃邊緣檢測(cè)數(shù)據(jù)與成像：
微構(gòu)件(手表機(jī)械裝置)檢測(cè)數(shù)據(jù)：
手表微構(gòu)件的拋光缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)：
未來(lái)工廠(chǎng)：零缺陷的微觀(guān)分辨率贏得生產(chǎn)線(xiàn)
“未來(lái)工廠(chǎng)”要求，靈活性和競(jìng)爭(zhēng)力要求實(shí)施控制手段和測(cè)量手段，以便能夠在生產(chǎn)中及早發(fā)現(xiàn)異常情況。在如今所及范圍的最新發(fā)展，使得識(shí)別微觀(guān)缺陷成為可能。這些高分辨率測(cè)量的衍生物是大數(shù)據(jù)的生成，這需要實(shí)施人工智能軟件。
來(lái)自于羅蘭貝格管理咨詢(xún)的扇形圖，闡述了未來(lái)工廠(chǎng)中數(shù)字化生產(chǎn)情景：在產(chǎn)品及工藝設(shè)計(jì)、管理與把控、生產(chǎn)制造、數(shù)據(jù)集成與維護(hù)、工作組織等5個(gè)方面，將未來(lái)工廠(chǎng)的彩色傳感器生產(chǎn)劃分為成熟度可用(廣泛傳播)、新興潛在成熟(有限擴(kuò)散)、在未來(lái)成熟等三個(gè)階段。
高分辨率圖像的生成，需要使用強(qiáng)大的計(jì)算手段來(lái)識(shí)別缺陷。使用人工智能實(shí)施最新技術(shù)的軟件(深度學(xué)習(xí)軟件和計(jì)算機(jī)在線(xiàn)瑕疵展示軟件)，使得這項(xiàng)任務(wù)更加可靠和簡(jiǎn)單。
測(cè)量晶圓時(shí)，MC2的動(dòng)態(tài)視覺(jué)場(chǎng)景，成像清晰且規(guī)則：
法國(guó)STIL創(chuàng)始于1993年，迄今為止為全球各行企業(yè)提供高性能的光譜共焦位移傳感器已超過(guò)25年。司逖測(cè)量技術(shù)(上海)有限公司是法國(guó)STIL公司在中國(guó)的銷(xiāo)售公司。我們?cè)谌A東及華南分別設(shè)有總公司及辦事處，均處于交通便捷、物流發(fā)達(dá)之地，以便更好地為中國(guó)客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的售前售后服務(wù)！
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