作為光伏領(lǐng)域的熱點研究材料,鈣鈦礦材料具有載流子遷移率高、吸收系數(shù)高等優(yōu)點,鈣鈦礦太陽電池(PSCs)的效率(PCE)已經(jīng)達到25.5%,PSCs的發(fā)展極具潛力。
研究表明,高效的PSCs常以CH3NH3PbI3為吸收層,分別以TiO2和sprio-OMeTAD為電子傳輸層(ETL)和空穴傳輸層(HTL)。

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但是由于鉛具有毒性,對環(huán)境極不友好,而TiO2需要高溫制備不利于制備柔性電池,sprio-OMeTAD價格昂貴,兩者特性均不穩(wěn)定,對電池性能帶來不利影響,這些缺陷限制了PSCs的推廣與應(yīng)用。
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另外,正置結(jié)構(gòu)(N-I-P)PSCs容易獲得比反式結(jié)構(gòu)(P-I-N)PSCs更高的PCE,但是N-I-P型PSCs具有明顯的遲滯效應(yīng),相比之下,反式PSCs的遲滯效應(yīng)可忽略不計。
為避免Pb元素對環(huán)境帶來的危害,Sn、Ag、Sb、Bi、Cu及Ge基鹵化物PSCs逐漸被廣泛研究。其中,CH3NH3SnI3具有合適的帶隙(1.3eV),是取代CH3NH3PbI3的較佳材料。
研究表明,無機材料具有較佳的穩(wěn)定性及更高的載流子遷移率,以無機材料作為PSCs載流子傳輸層進行結(jié)構(gòu)設(shè)計已被大量報道,PCBM、ZnO、SnO以及IGZO等均被報道可作為ETL,而CuI、NiO、CuSCN以及P3HT等被證實可作為HTL。

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因此,為進一步提高PSCs的輸出性能和穩(wěn)定性,有效避免電池遲滯效應(yīng),本文以CH3NH3SnI3作為吸收層、以PCBM和NiO分別為ETL和HTL設(shè)計反式無鉛電池結(jié)構(gòu),并以開路電壓(Voc)、短路電流密度(Jsc)、填充因子(FF)及PCE為主要指標(biāo),探討金屬背電極功函數(shù)、界面缺陷態(tài)密度、工作溫度以及ITO功函數(shù)對電池性能的影響,為實驗上制備高性能的無鉛PSCs提供理論指導(dǎo),也為新型PSCs的研究方向提供新思路。
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實驗
本文基于一維太陽電池數(shù)值模擬軟件SCAPS-1D進行仿真研究,通過設(shè)置相關(guān)器件參數(shù)以及邊界條件,SCAPS-1D基于泊松方程及電子和空穴連續(xù)性方程這幾個半導(dǎo)體基本方程組計算得到電池光譜響應(yīng)、J-V特性以及電場分布等,見式(1)~(3)所示。

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式中:

ε是相對介電常數(shù);

NA–和ND+分別為電離受主濃度和電離施主濃度;

Ψ是靜電勢;

x是位置坐標(biāo);

Pt和nt分別表示捕獲空穴和捕獲電子;

p和n分別表示自由空穴和自由電子;

Jn和Jp分別表示光生電子電流密度和光生空穴電流密度;

Rn(x)和Rp(x)表示電子和空穴的復(fù)合率;

G(x)表示光生產(chǎn)生率。
本文以CH3NH3SnI3為吸收層,分別以PCBM和NiO為ETL和HTL構(gòu)建反式電池器件,結(jié)構(gòu)如圖1所示。
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圖1 器件基本結(jié)構(gòu)

設(shè)置器件各層材料參數(shù),見表1和表2。

表1 器件基本參數(shù)1

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表2 器件基本參數(shù)2

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為使仿真結(jié)果更貼合實際,在PCBM和CH3NH3SnI3以及CH3NH3SnI3和NiO之間分別插入一層界面層,命名為IDL1和IDL2,吸收層以及IDL1和IDL2的缺陷類型、能量分布類型、能級位置均設(shè)置為Neutral、Single和aboveEv0.6,其他設(shè)置見表3。

表3?CH3NH3SnI3層缺陷和界面缺陷層設(shè)置 .

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另外,器件各層材料的電子和空穴熱速率統(tǒng)一設(shè)置為1.0×107cm/s,缺陷均設(shè)置為高斯類型,光照從HTL端入射,入射光譜為AM1.5G光譜,環(huán)境溫度設(shè)置為300K。
在此基礎(chǔ)上,本文主要分析與探討金屬背電極功函數(shù)、界面缺陷態(tài)密度、工作溫度以及ITO功函數(shù)對電池性能的影響,旨在為實驗上制備高效的反式無鉛PSCs提供一定的理論指導(dǎo)。
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結(jié)果與討論
01
不同金屬背電極對電池輸出的影響
功函數(shù)不同的金屬背電極對電池內(nèi)部勢壘[7]影響不同,進而對電池性能帶來不同的影響。為探討不同功函數(shù)的背電極對電池性能帶來的不同效果,本文分別以Al、Sn、Ag、Fe、Cu以及Au為背電極進行電池結(jié)構(gòu)設(shè)計,不同金屬背電極功函數(shù)如表4所示。

表4 不同金屬背電極功函數(shù)

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圖2是不同金屬背電極對電池性能的影響數(shù)據(jù)。
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圖2 不同金屬背電極對電池性能的影響
圖2(a)為電池結(jié)構(gòu)輸出J-V特性曲線,圖2(b)是電池輸出的PCE。
由圖可見,以不同材料作為背電極時,隨著功函數(shù)變大,Jsc基本保持不變,而Voc呈現(xiàn)一定程度的減小,電池J-V特性逐漸變差,導(dǎo)致了FF的減小,使得PCE下降。
不同金屬背電極功函數(shù)造成了載流子運輸?shù)膭輭靖叨炔煌?,而勢壘高度對Voc的大小有決定性作用。
背電極材料功函數(shù)越高,則勢壘高度越高,電子傳輸受到抑制,造成電壓損失,故Voc減小。
背電極功函數(shù)過高時,可能會在界面形成肖特基結(jié),電子傳輸進一步受到阻礙。
因此,對于該結(jié)構(gòu)而言,為獲得較佳的電池輸出性能,應(yīng)盡量采用功函數(shù)較低的背電極材料,Al和Sn是較為合適的電極材料。
02
界面缺陷態(tài)密度對電池輸出的影響
吸收層吸收能量大于其帶隙的光子后產(chǎn)生激子,激子在吸收層和載流子傳輸層的界面分離后形成電子和空穴,光生電子和光生空穴再沿著相應(yīng)的載流子傳輸層運動。
因此,載流子傳輸層和鈣鈦礦吸收層界面的缺陷態(tài)密度對電池性能有重要影響。為探究載流子傳輸層和鈣鈦礦吸收層界面的缺陷態(tài)密度對電池的性能影響,本文設(shè)置載流子傳輸層和鈣鈦礦吸收層界面的缺陷態(tài)密度在1.0×108~1.0×1016cm-3的范圍內(nèi)變化,仿真結(jié)果見圖3和圖4。
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3 IDL1界面缺陷態(tài)密度對電池性能的影響

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圖4 IDL2界面缺陷態(tài)密度對電池性能的影響

由圖3(a)可見,對于PCBM和CH3NH3SnI3的界面IDL1而言,當(dāng)缺陷態(tài)密度不超過1.0×1012cm-3時,J-V特性曲線基本重合,電池性能差異不大。但當(dāng)缺陷態(tài)密度大于1.0×1012cm-3時,Voc減小,電池性能下降。
類似地,如圖4(a)所示,對于CH3NH3SnI3和NiO的界面IDL2而言,當(dāng)缺陷態(tài)密度不超過1.0×1010cm-3時,J-V特性曲線基本重合,電池性能差異不大。
但當(dāng)缺陷態(tài)密度大于1.0×1010cm-3時,Voc減小,電池性能下降。
隨著界面缺陷態(tài)的不斷增加,界面處復(fù)合中心和陷阱增多,更多的光生電子或者光生空穴被捕獲,因此Voc減小,電池性能下降,如圖3(b)和圖4(b)所示。
相比較于IDL1,IDL2缺陷態(tài)密度的改變對電池性能影響更為劇烈,原因是在反式的電池結(jié)構(gòu)中,光線先通過HTL再到達吸收層,之后才到達ETL。
因此,在IDL2處非平衡載流子數(shù)量以及復(fù)合中心和陷阱更多,導(dǎo)致了更大的復(fù)合率,因此IDL2缺陷態(tài)密度的改變對電池性能影響更明顯。
結(jié)合仿真結(jié)果,PCBM和CH3NH3SnI3界面以及CH3NH3SnI3和NiO界面的缺陷態(tài)密度應(yīng)分別不超過1.0×1012cm-3以及1.0×1010cm-3。
03
工作溫度對電池輸出的影響
電池器件一般工作于室外,因此室外環(huán)境溫度對電池性能有重要影響。一般而言,電池所處的工作溫度超過300K,故本文將工作溫度設(shè)置在200~600K范圍內(nèi)變化,分析溫度變化對電池性能的影響,仿真結(jié)果見圖5。
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圖5 工作溫度對電池輸出參數(shù)的影響
由圖可見,隨著工作溫度的升高,電池性能表現(xiàn)出下降的趨勢。溫度的升高,令空穴遷移率、載流子的濃度以及帶隙等發(fā)生變化,使得反相飽和電流增大及Voc減小,載流子復(fù)合得到增強,因此抑制了電池性能。
因此,為使電池輸出較佳性能,工作環(huán)境溫度不應(yīng)過高。
04
ITO功函數(shù)對電池輸出的影響
ITO功函數(shù)影響界面復(fù)合情況,并由此影響Voc輸出。為探究ITO功函數(shù)對電池輸出性能的影響,本文將ITO功函數(shù)設(shè)置在4.6~5.0eV范圍內(nèi)變化,仿真結(jié)果見圖6。
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圖6?ITO功函數(shù)對電池輸出參數(shù)的影響

隨著ITO功函數(shù)逐漸變大,電池內(nèi)部傳輸勢壘減小,促進了空穴的運輸,使得界面復(fù)合減弱,因此電池輸出較佳性能。
由圖可見,當(dāng)ITO功函數(shù)從4.6增至4.8eV時,Voc、Jsc以及FF均逐漸提升,因此提高了PCE的輸出。
但是當(dāng)ITO功函數(shù)大于4.8eV時,電池性能變化較小。由仿真結(jié)果知,為獲得較佳的電池性能,ITO功函數(shù)不應(yīng)低于4.8eV。
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基于SCAPS-1D構(gòu)建結(jié)構(gòu)為NiO/CH3NH3SnI3/PCBM的反式錫基PSCs,分析和探討了金屬背電極功函數(shù)、界面缺陷態(tài)密度、工作溫度以及ITO功函數(shù)對電池性能的影響。
由仿真結(jié)果知,隨著金屬背電極功函數(shù)逐漸增大,電子傳輸受到阻礙,電池性能下降,因此功函數(shù)較低的背電極材料更為合適該電池;界面缺陷態(tài)密度的增加,使得復(fù)合中心和陷阱增多,導(dǎo)致Voc減小,電池性能下降。
相較而言,NiO和CH3NH3SnI3間的界面缺陷對電池性能影響更為明顯;隨著工作溫度不斷升高,電池性能不斷下降,因此應(yīng)盡量避免電池工作溫度過高;隨著ITO功函數(shù)逐漸變大,電池內(nèi)部傳輸勢壘減小,促進了空穴的運輸,使得界面復(fù)合減弱,電池輸出較佳性能。
來源:反式錫基鈣鈦礦太陽電池性能分析與探討
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作者 li, meiyong

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