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廣州先藝電子科技有限公司

先藝產(chǎn)品丨蓋板鍍層質(zhì)量對預(yù)置金錫蓋板(AuSn Lids)氣密封裝可靠性的影響

在FPGA封裝、光電子封裝等高可靠氣密封裝領(lǐng)域,器件應(yīng)用場景多樣,環(huán)境復(fù)雜,在軍工和宇航等級別的高端應(yīng)用時,需要很多高強度工作條件需求,一旦封裝質(zhì)量達(dá)不到,器件就會失效。由于金屬封裝、陶瓷封裝、金屬-陶瓷封裝等氣密封裝形式具有氣密性好、可靠性高、應(yīng)力低、良好機械支撐、環(huán)境隔離等特點,目前廣泛應(yīng)用于高可靠性微電子封裝中。

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在器件服役的過程中,常出現(xiàn)的可靠性失效類型主要為器件在潮濕、鹽霧等各種惡劣環(huán)境下出現(xiàn)的殼體蓋板銹蝕導(dǎo)致慢漏氣造成的氣密性失效。

高可靠氣密封裝主要采用金錫合金焊料(Au80Sn20)進(jìn)行封裝,焊料熔化后在殼體封裝區(qū)產(chǎn)生均勻致密的焊料浸潤,形成氣密性焊接。由于金錫焊料具有很高的化學(xué)穩(wěn)定性,且焊接過程不會破壞殼體表面的保護(hù)鍍層,故鹽霧試驗主要針對封裝前的殼體及蓋板的鹽霧測試。

通常,封裝殼體使用的基材為可伐合金,它由鐵、鎳、鈷以及其他微量元素組成。由于合金本身含鐵量較高,耐鹽霧腐蝕能力較差,因此必須在表面加保護(hù)鍍層來提高防腐蝕能力。

在電鍍過程中,如出現(xiàn)整板電鍍后分切的方式電鍍、基材成形后捆線電鍍或基材毛刺在電鍍后脫落等情況,因局部基材無鍍層或鍍層膜厚及致密度不足,均會導(dǎo)致局部抗腐蝕能力變差,影響整體服役可靠性。

先藝產(chǎn)品丨蓋板鍍層質(zhì)量對預(yù)置金錫蓋板(AuSn Lids)氣密封裝可靠性的影響

 

XIANYI
先藝·預(yù)置金錫蓋板

先藝的預(yù)置金錫蓋板(AuSn Lids)由鍍金蓋板、以及Au80Sn20預(yù)成形焊料組成,具有定位精準(zhǔn)、抗腐蝕能力強、氣密封裝效果好等特點,滿足高可靠氣密封裝要求。

鍍金蓋板材質(zhì)可提供可伐(4J29或者4J42)、鉬銅、陶瓷等材質(zhì),結(jié)合六面電鍍工藝,提供Ni/Au,Ni/Au/Ni/Au等表面鍍層體系,有效提高合金蓋板的耐蝕性和可靠性,耐鹽霧24H以上。

Au80Sn20預(yù)成形焊料,具有高腐蝕性,高抗蠕變性,高強度,低蒸氣壓,良好的流動性及浸潤性等優(yōu)良物理性能,適用于氣密性封裝。

 

先藝電子是國內(nèi)領(lǐng)先的半導(dǎo)體微組裝互連材料制造商,預(yù)置金錫蓋板產(chǎn)品在FPGA封裝、光電子封裝等氣密封裝領(lǐng)域廣受認(rèn)可。如您對氣密封裝蓋板及材料有任何需求,歡迎隨時聯(lián)系我們,富有經(jīng)驗的技術(shù)團(tuán)隊將提供選型、焊接工藝及失效分析方面的建議與指導(dǎo)。

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作者 gan, lanjie

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